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自动椭圆偏振测厚仪

自动椭圆偏振测厚仪

产品时间:2024-11-07

简要描述:

仪器介绍
椭圆偏振法测量的原理很早就已提出,相应的测试方法和设备也不断地被改进和创新,使得椭圆偏振法成为重要的测试手段,并广泛地应用在光学、材料、生物、医学等各个领域。其中测量薄膜材料的厚度、折射率和消光系数是椭圆偏振法基本和重要的应用之一 。自动椭圆偏振测厚仪

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仪器介绍
椭圆偏振法测量的原理很早就已提出,相应的测试方法和设备也不断地被改进和创新,使得椭圆偏振法成为重要的测试手段,并广泛地应用在光学、材料、生物、医学等各个领域。其中测量薄膜材料的厚度、折射率和消光系数是椭圆偏振法基本和重要的应用之一 。

SGC-2自动椭圆偏振测厚仪产品特点

· 仪器采用消光式椭圆偏振方式测量    

· 精度高、自动控制   

· 光源采用氦氖激光,波长精度高   

· 仪器采用USB接口与电脑连接  

· 配套软件对采样数据具有多种处理方式,适用于不同需要   

· 软件有完整版及学生版两种版本,适于教学要求

SGC-2自动椭圆偏振测厚仪参数

测量范围:1nm-400nm
测量小值:小于等于1nm
镀膜折射率范围:1.300-10.000
入射角:40°-90°
方位角读数范围:0°-180°
测量精度:±5nm
厚度:小于等于10nm

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