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粉尘中游离二氧化硅测定仪

粉尘中游离二氧化硅测定仪

产品时间:2024-11-07

简要描述:

TJ270-30/30A粉尘中游离二氧化硅测定仪工作环境中的粉尘种类较多,主要有矽尘、煤尘、锅炉尘、石棉尘、水泥尘等。当粉尘中的游离二氧化硅含量较高时,对接触人员危害较大,因此有必要加强对粉尘中游离二氧化硅的测定。以往检测粉尘中的游离二氧化硅含量,均采用GB 5748 - 1985规定的“焦磷酸重量法"[ 1 ] ,但该方法操作繁琐、检测周期长、准确性差,难以满足批量检测的要求。

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  TJ270-30/30A粉尘中游离二氧化硅测定仪
 
  工作环境中的粉尘种类较多,主要有矽尘、煤尘、锅炉尘、石棉尘、水泥尘等。当粉尘中的游离二氧化硅含量较高时,对接触人员危害较大,因此有必要加强对粉尘中游离二氧化硅的测定。以往检测粉尘中的游离二氧化硅含量,均采用GB 5748 - 1985规定的“焦磷酸重量法”[ 1 ] ,但该方法操作繁琐、检测周期长、准确性差,难以满足批量检测的要求。
 
  为了提高检测的准确度,实现批量检测的目的,我公司专业提供工作环境中粉尘及煤矿粉尘测定配套设备----游离二氧化硅检测仪。(符合中华人民共和国国家职业卫生标准GBZ/T 192.4—2007 工作场所空气中粉尘测定)
 
 游离二氧化硅测定仪主要特点:
 
  在国内*采用计算机直接比例记录原理
 
  采用一块高能量双闪耀光栅覆盖整个工作波段
 
  采用高性能计算机进行仪器控制和数据处理
 
  WINDWOS中文操作软件
 
  采用USB接口
 
  采用国产TGS为接收器,价格低廉,性能可靠。
 
  游离二氧化硅测定仪仪器主要数据处理功能:
 
  光谱背景基线记忆 光谱背景基线校正 光谱数据累加运算 %T与ABS转换
 
  光谱数据平滑运算 光谱基线倾斜校正 光谱文件管理 光谱峰值检出
 
  光谱数据微分运算 光谱数据四则运算 光谱刻度扩展 光谱吸收扩展
 
  游离二氧化硅测定仪性能指标:
 
  波数范围:4000-400cm-1
 
  波数精度:≤±4cm-1(4000-2000cm-1)≤±2 cm-1(2000-400cm-1)
 
  分辨能力:1.5cm-1(1000cm-1附近)
 
  透过率精度:≤±0.2%T(不含噪音电平)
 
  Io线平直度:≤±2%T
 
  杂散光:≤0.5%T(4000-650cm-1) ≤1%T(650-400cm-1)
 
  测试模式:三种(透过率、吸光度、单光束)
 
  扫描速度:五档(很快、快、正常、慢、很慢)
 
  狭缝程序:五档(很宽、宽、正常、窄、很窄)
 
  响应:四档(很快、快、正常、慢)
 
  工作方式:三种:(连续扫描、重复扫描、定波长扫描)
 
  横、纵坐标扩展:任意
 
  TJ270-30/30A粉尘中游离二氧化硅测定仪配套附件:
 
  FW-5粉末压片机、HF-2压片模具、KBr药片架、玛瑙研钵器、红外烘烤箱、溴化钾粉末、十万分之一天平、高温电炉、粉尘采样器(防爆)、α2SiO2标准品:纯度在99%以上等

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