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粉尘中游离二氧化硅测试测定仪介绍及参数

NLTJ270-30/30A型粉尘中游离二氧化硅测定仪

波数范围:4000-400cm-1

波数精度:≤±4cm-14000-2000cm-1)≤±2 cm-12000-400cm-1

分辨能力:1.5cm-1(1000cm-1附近)

透过率精度:≤±0.2%T(不含噪音电平)

Io线平直度:≤±2%T

杂散光:≤0.5%T(4000-650cm-11%T(650-400cm-1)

测试模式:三种(透过率、吸光度、单光束)

扫描速度:五档(很快、快、正常、慢、很慢)

狭缝程序:五档(很宽、宽、正常、窄、很窄)

响应:四档(很快、快、正常、慢)

工作方式:三种:(连续扫描、重复扫描、定波长扫描)

横、纵坐标扩展:任意

NL-4000型粉尘中游离二氧化硅测试仪

性能指标:

波长范围:2.5-25u(波数范围:4000-400cm-1)

波数精度: ≤±2 cm-1 (2000-400 cm-1)≤±4cm-1 (4000-2000 cm-1)

全波长扫描  狭缝程序五档可调
杂散光≤0.5%T(4000-650cm-1)1%T(650-400cm-1)

透过率精度:±0.2%T(不含噪音电平)
样品研磨至粒度小于8Lm
内置高配计算机,自备Windows xp操作系统,中文操作平台,USB2.0接口
粉尘中游离二氧化硅检测仪特点:
具有快速、灵敏、能鉴别游离二氧化硅的三种晶形等特点而因其设备投资较少、操作 。
简便、可适用于自动分析等优势获得了广泛的应用。
坚固的设计和实用的外观尺寸适合各种分析测试环境。
优异的灵敏度和信噪比 
将检测元件、信号放大器与24 位的模/数转换器集成在一起,直接输出数字信号(模拟信号在传输过程中衰减较大且易受到干扰,而数字信号则可完全避免),进一步降低电子噪声;24 位模/数转换器则将系统的弱信号检测能力提高了一个数量级。
采用高性能计算机进行仪器控制和数据处理,WINDWOS全中文操作界面 
由电磁驱动装置和精密机械导轨构成的运动部件,改善了对使用环境的要求
高强度光源采用球形反射装置,可获得均匀、稳定的红外辐射。

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