四探针测试仪探头
产品时间:2024-09-02
简要描述:
FT/HP系列四探针测试仪探头采用综合性能优异的航空工程塑料、机械结构优良弹huang片、耐磨和硬度高的探针研制的测量数据稳定、可靠、准确度高、耐用性能好四探针探头。所有技术指标符合国家标准,同时符合ASTM标准有关规定;可安装于探针测试台也可手持探头对样品进行测试,如对样品手持探头测试可搭配PH-Ⅱ型把手有效提高测试效率,此测试方式广泛应用于硅多晶料、头尾料、锅底料的电阻率分拣;
FT/HP系列四探针测试仪探头
FT/HP系列四探针测试仪探头
FT系列四探针探头
FT系列四探针探头是采用综合性能优异的航空工程塑料、机械结构优良弹huang片、耐磨和硬度高的探针研制的测量数据稳定、可靠、准确度高、耐用性能好四探针探头。所有技术指标符合国家标准,同时符合ASTM标准有关规定;
FT系列四探针探头可安装于探针测试台也可手持探头对样品进行测试,如对样品手持探头测试可搭配PH-Ⅱ型把手有效提高测试效率,此测试方式广泛应用于硅多晶料、头尾料、锅底料的电阻率分拣;与原有的TZT(9A、9B、9C、9D)系列四探针探头可替换使用
由于采用了综合性能优异的航空工程塑料四探针探头有如下特点:
①尺寸稳定性好,成型收缩率小于0.3%,线膨涨系数小于3x10-6;
②机械性能优异,抗张强度高于120MPa,弯曲强度大于150MPa,弯曲模量大于12GPa;
③电性能优异,介电强度大于17kv/mm,介电系数小于4,体积电阻率在1016数量级;
④耐腐蚀,除氧化性介质外,可以耐几乎所有的无机物质腐蚀;在200℃下,不溶于已知的所有机溶剂;
⑤低吸湿,在23℃水中经24小时浸泡后吸水率小于0.05%;
⑥阻燃性好,其氧指数大于40,为UV—94V—00/5—V级;
⑦耐高温,长期使用温度180℃;
技术参数
①探针间距:1±0.010mm;
②探针材料:高速钢或碳化钨;
③探针压力:5~8牛顿或12~16牛顿;
④探针机械游移率:小于0.3%;
⑤探针伸出的长度:3mm;
⑥针尖锥体夹角:60°;
⑦针间绝缘电阻:大于109Ω;
HP系列四探针探头
HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
特性及规格:
特制之手握式探笔
球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
探头使用寿命长
探针间距:1mmm、1.59mm、3.8m;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ