方块电阻测试仪
产品时间：2024-09-02
简要描述：
ST-21H型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻（表面电阻）的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
打印当前页ST-21H型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
ST-21H型方块电阻测试仪测量范围
按方块电阻量值大小分为二个量程档：
1.方块电阻 1.00～1999.9Ω/□；
2.方块电阻 10.0～19999Ω/□；
小分辨率：0.1Ω/□
横流源：测量过程误差：≤±0.8%
模拟转换器：量程：0～199.99mv；
分辨率：10μv；
方式：LCD大屏幕显示；极性，超量程均自动显示；小数点同步显示；
测量不确定度：在整个量程范围内，测量不确定度≤5%
四探针探头规格：间距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ
电源9V叠层电池1节
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