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方块电阻测试仪

方块电阻测试仪

产品时间:2020-03-24

简要描述:

ST-21H型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

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ST-21H型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

ST-21H型方块电阻测试仪测量范围

按方块电阻量值大小分为二个量程档:
1.方块电阻 1.00~1999.9Ω/□;
2.方块电阻 10.0~19999Ω/□;
最小分辨率:0.1Ω/□

横流源:测量过程误差:≤±0.8%

模拟转换器:量程:0~199.99mv;
分辨率:10μv;
方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示;

测量不确定度:在整个量程范围内,测量不确定度≤5%

四探针探头规格:间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ

电源9V叠层电池1节

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