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方块电阻测试仪

方块电阻测试仪

产品时间:2024-03-18

简要描述:

ST-21型方块电阻测试仪以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

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ST-21型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

ST-21型方块电阻测试仪特点:

采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;

以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;

采用单个电池供电,带电池欠压指示;

体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;

特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜

探头带抗静电模块

测量范围

按方块电阻量值大小分为二个量程档:
1.方块电阻 1.00~199.99Ω/□;
2.方块电阻 10.0~1999.9Ω/□;
小分辨率:0.01Ω/□

横流源:测量过程误差:≤±0.8%

模拟转换器:量程:0~199.99mv;
分辨率:10μv;
方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示;

测量不确定度:在整个量程范围内,测量不确定度≤5%

四探针探头规格:间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ

电源9V叠层电池1节

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